연구ᆞ표면분석용 원자현미경

AFM Modes

Park AFM은 다양한 스캐닝 모드를 제공하여 광범위한 데이터 유형을 정확하고 효율적으로 수집할 수 있습니다. 팁의 날카로움과 샘플의 무결성을 유지하는 세계 유일의 진정한 비접촉 모드부터 고급 자기력 현미경(Magnetic Force Microscopy)에 이르기까지, Park는 AFM 업계에서 가장 혁신적이고 정확한 모드를 제공합니다.

Topography

파크시스템스의 혁신적인 AFM 모드로 샘플 표면을 정밀하게 분석해보세요. 세계 유일의 True Non-Contact™ 스캐닝과 고정밀 표준 모드를 통해 차별화된 측정 성능을 경험할 수 있습니다.

Electrical Characterization

파크시스템스의 첨단 스캐닝 모드를 통해 샘플의 전기적 특성을 정밀하게 분석해보세요. 전도도, 저항을 비롯한 다양한 전기적·표면 특성을 상세하게 측정할 수 있습니다.

Nanomechanical Characterization

파크시스템스의 고정밀 기계적 스캐닝 모드를 통해 샘플의 기계적 특성을 정확하게 측정하고, 신뢰도 높은 데이터를 확보해보세요.

Special Modes

파크시스템스의 True Non-Contact™ 모드는 세계에서 유일한 완전 비접촉 AFM 스캔 모드로 혁신적이고 다양한 AFM 이미징 모드와 기술을 제공하고 있습니다.