Lectures
12, Jun 24'
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Imaging spectroscopic ellipsometry involves combining the sensitivity of ellipsometry to detect changes in film thickness and optical properties with the imaging capabili...
16, May 24'
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In this seminar, I review and celebrate the breakthrough of this technique into the temperature and spatial scales relevant to fundamental studies of quantum materia...
25, Apr 24'
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パーク・システムズ・ジャパンは、今年も新年度・新学期に合わせまして AFMウェビナー【形状測定入門コース】を開催いたします！ 昨年実施した超基礎講座をベースにさらに分かりやすく、内容を改定いたしました。AFMにご興味のある方、これから実際にAFMを使い始められる方、パラメータ調整にあまり自信の無い方、オペレーションに疑問のある方、 ハード...
4, Apr 24'
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As interest in energy-related fields increases, this study delves into the pivotal role of Atomic Force Microscopy (AFM) in propelling forward innovations in energy ...
22, Mar 24'
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In this talk, we will discuss different perovskite fabrication processes and relevant composition adjustments to achieve desired applications such as solar cells, LE...
7, Dec 23'
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薄膜の厚さと光学特性は、マイクロおよびナノエレクトロニクス デバイスの性能と信頼性にとって重要です。 サンプルのサイズが小さくなっていくにつれ、小さな構造物の厚さと光学特性を測定することが求められますが、従来の方法では解決することが難しいです。 イメージングエリプソメトリーは、ミクロンスケールの構造上の表面や膜の特性を評価するため...
29, Nov 23'
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Real-space images of soft matter with molecular and sub-molecular resolution could provide valuable insights into the relationship between morphology and functionality of...
16, Nov 23'
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電子・物理・機械・化学・生物と、研究・教育のバックグラウンドが大きく異なる幅広いユーザを対象とした学内共通設備としてPark NX10・AFM装置を導入した経緯と本学での運用方針を説明します。特に「研究室に配属されたばかりのB4や大学院生」が主なユーザとなる状況を強く意識しております。 次に、装置の運用管理と利用にあたり、「ビギ...
5, Sep 23'
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The thickness and optical properties of thin films are critical to the performance and reliability of micro- and nanoelectronics devices. As features are constantly getti...
29, Aug 23'
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Electrostatic and Kelvin probe force microscopies (EFM and KPFM) have become primary tools for the characterization of electrical phenomena on the nanometer scale, with m...
27, Jul 23'
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溶液中の環境を必要とする材料のAFM測定について。 カンチレバーを使った技術、ピペットを使った技術、電気化学測定を含めた溶液中測定について詳しくお話いたします。 AFMのフレキシブルな環境対応について知りたい方、また従来のカンチレバー以外のピペット法について知りたい方におすすめの講義です。
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27, Jul 23'
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在先进半导体制程领域中，光刻技术扮演着极其重要且关键的角色。其中，光掩模作为微缩图形的来源，如何确保其图形正确而不被缺陷所影响，缺陷检测与修复成了光掩模不可或缺的工序。文中介绍原子力显微镜作为高精度纳米级定位与量测系统，可用来针对光掩模上的缺陷形貌、尺寸大小、定位缺陷位置与种类做进一步检验 (Defect Review)，并生成三维形貌和...
5, Jul 23'
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Thickness and optical properties of thin films are critical to the performance and reliability of micro- and nanoelectronic devices. As features are constantly getting sm...
30, Jun 23'
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The AFM tip is the part of the AFM setup that interacts directly with the sample surface. . The tip itself is the most precise and delicate component of an AFM probe. Tip...
22, Jun 23'
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AFMで正確な像を得るための重要な作業の一つ、サンプルプレパレーション。 昨年パーク・システムズ本社から発行された『ユーザーハンドブック』より、様々な試料調整方法をご紹介いたします。 測定を成功させるために、測定対象物によってどのようにサンプルの調整・固定をすればよいか、 実習も交えて丁寧に解説いたします。 どのようにサンプルを調整したら...
21, Jun 23'
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纳米红外光谱分析系统在化学分析及材料成像的应用光诱导力显微镜 (PiFM) 能提供高分辨率红外光谱，其与传统的FTIR(傅里叶变换红外光谱)保持着密切的相关性，结合AFM 平台，其PiFM 光谱 可达10 nm 空间分辨率下的化学鉴定。此外，Park PiFM 亦可提供不同深度的光谱信息，提供对样品成分的更多资讯。
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23, May 23'
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Scanning Probe Microscopy (SPM) evolved with the invention of Scanning Tunnelling Microscope (STM). Later, with the development of the Atomic Force Microscope (AFM), topo...
26, Apr 23'
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Atomic force microscopy (AFM) is an extremely versatile technique enabling the study of different aspects of biological systems with ultra-high resolution. Conventionally...
25, Apr 23'
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The tip of an atomic force microscope (AFM) is at the heart of the instrument as it interacts with the sample surface and hence proper probe selection is critical for obt...
20, Apr 23'
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今年も新年度・新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナーを開催いたします！昨年4月に実施した初級講座をさらに分かりやすい内容にいたしました。これからAFMを使い始める方、普段のオペレーションに自信の無い方、ハードウエア・ソフトウエアのことをもっと知りたい方などなど、基本の形状測定から学んでいただけるチャンスです。
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27, Mar 23'
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Atomic Force Microscope (AFM) is an indispensable tool in the field on nanotechnology to map nanometre sized features and physical properties of the sample surface. AFM c...
27, Feb 23'
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The atomic force microscope (AFM) is one of the necessary tool for mapping the nanoscale properties of a material, and hence its operation should be simple. However, one ...
22, Feb 23'
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Magnetic force microscopy (MFM) is an atomic force microscopy (AFM) application that is widely used to characterize magnetic properties of various materials at the nanosc...
15, Feb 23'
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Atomic force microscopy (AFM) is a technique that measures forces between a probe and sample, which can be used not only to measure the topography of surfaces with nanome...
21, Dec 22'
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Imaging under liquid conditions is an important aspect of an atomic force microscope (AFM) to map the topography as well as mechanical properties of sample surface. Gener...
14, Dec 22'
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From functional polymer composites to wearable electronics or 2D materials or biological structures, local variations in mechanical properties dictate the macroscopic pro...
29, Nov 22'
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In this webinar the principle of electrostatic force microscopy (EFM) will be discussed to map electrical properties of the sample by sensing the electrostatic force betw...
21, Oct 22'
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蓄電池の研究開発においてAFMは欠かせないツールとなっています。特に、走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）は、電池特性に直接影響する局所電気特性を評価できる手法として注目されています。SSRMはメーカー等による応用展開が進んでいますが、論文等による報告が少ないため測定の実態を知る機会がそれほど多くないというのが現状かと思われます。 産総研...
22, Sep 22'
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파크시스템스는 이번 웨비나를 통해 PFM의 기본 원리와 응용을 주제로 성균관대 김윤석 교수의 초청 강연을 준비하였습니다. 웨비나에서는 PFM의 기본 원리와 응용은 물론, PFM 응답 특성의 비압전적 요인을 밝히기 위한 최근의 연구 성과와 AFM 기술을 이용하여 강유전성 물질의 특성을 어떻게 분석하는지도 ...
14, Sep 22'
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Join for the 4th webinar in the series: Trends vs. Hypes in AFM titled "Making dielectrics the only barrier in your research with high voltage electrical AFM. I...
7, Sep 22'
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原子力显微镜AFM是在纳米尺度上表征样品形貌的最主要的方法之一，基于样品形貌同时还可选择不同模块研究其电学，磁学，热学，电化学，力学等特性。然而样品制备的合适与否决定了样品形貌及其他特性的准确性。本讲座主要介绍不同类型的样品制备过程及注意点，包括粉末，纤维，电学模块样品等等。样品的制备是所有实验的基础，尤其是AFM样品的形貌测试，不同类型...
30, Aug 22'
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この度新たに、産業用AFMにつきましてもウェビナーを開催いたします。弊社では半導体関係でのAFM計測のご要望に応えるため、300mmウエハーの自動搬送に対応したNX-Waferをはじめとする装置ラインナップを取り揃え、表面粗さや形状計測といった用途のみならず、プロファイラー機能や平坦基板の欠陥自動計測といったオプションも取り揃えております...
29, Aug 22'
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Atomic force microscope (AFM) is an indispensable tool to map the nanoscale properties of a material and one expects its operations to be user friendly. However, one of t...
25, Aug 22'
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开尔文探针力显微镜 (KPFM) 是一种静电力显微镜 (EFM) 技术，被广泛应用于研究各种导电或半导体样品表面电特性。KPFM 提供局部表面电位分布的定量结果，或者，校准后，测量样品的功函数。KPFM 广泛用于研究和工业中，用于对各种应用（如聚合物化合物或太阳能电池等电子设备）的功函数变化进行成像。 在本次网络研讨会中，我们将展示开尔文...
28, Jul 22'
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随着半导体芯片技术进展，元器件特征尺寸横向微缩的同时，对于元器件纵向维度上的微缩、堆叠与平坦化控制也随之日趋重要，相关线上制程监控也越来越重要。传统量测仪器面对于纵向维度上制程监控需求正面临着挑战，然而原子力显微镜因其优异的纵向解析度与灵敏度，近年来也获得越来越多的关注。本文介绍原子力显微镜于现今半导体芯片制程技术的量测应用，以及其未来展...
28, Jul 22'
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原子力显微镜的探针关乎我们的研究成果。探针的性状好坏决定了原子力显微镜成像结果的优劣。本次演讲会着重在经验的分享，希望能帮助大家在未来参数的设定上，以及探针的选用上，都能做出更精准的判断。本次讲座会依次从原子力显微镜的基本设定，探针，探针形状问题，力曲线，典型图像瑕疵分析，AFM图像分析等方面为大家进行分享。
// Marketo la...
6, Jul 22'
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Magnetic Force Microscopy (MFM) is a well-known non-contact scanning probe (SPM) technique established for more than 35 years by now, that is capable of mapping near-surf...
30, Jun 22'
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AFM(Atomic Force Microscopy)은 탐침과 시료 표면 원자 간의 상호작용력을 측정하여 시료 표면의 형상 뿐만 아니라 전기적, 자기적, 역학적, 광학적 및 열적 특성들을 관찰할 수 있게 해줍니다. 이처럼 다양한 범위의 특성을 나노 스케일에서 측정하기 때문에 AFM은 현재 여러 분야에 널리...
24, Jun 22'
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日本の新年度、新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナを実施中ですが、今回は材料の機械特性に関するアプリケーションをご紹介します 機械特性では、形状測定ではあまり日の目を見ないコンタクトモードとスペクトロスコピーの組み合わせが大活躍します。カンチレバーのバネを利用して相手の硬さや弾性、 凝着、様々な機械物性を定量的に評価することが可能になり...
22, Jun 22'
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Join Park's webinar on 22 June 2022: Single capsomere imaging in viruses. It is the second webinar in the series "Trends vs. Hypes in AFM. For further sessions please go ...
14, Jun 22'
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Kelvin probe force microscopy (KPFM), an electrostatic force microscopy (EFM) technique, is widely applied to study electrical surface properties of various conducti...
9, Jun 22'
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원자현미경(AFM)은 탐침과 시료 사이의 원자 간 힘을 사용하여 시료 표면의 형상을 측정함과 동시에 시료가 가지고 있는 전기적, 자기적, 기계적 및 열적 특성 등에 대한 연구를 가능하게 합니다. 이와 같은 측정의 범용성으로 AFM은 최근 다양한 연구 분야에서 활발하게 사용되고 있습니다. 그 중 시료가 가...
2, Jun 22'
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软电子学正在向医疗保健监测和医疗植入方向发展。然而，材料的高导电性和低杨氏模量之间难以达到平衡、生物组织与柔性智能器件之间较差的粘合强度和显著的机械失配等因素会导致器件在界面上的功能失效。在此，我们报告了一种具有低模量（56.1-401.9 kPa）、高拉伸性（700%）、高界面附着力（搭接剪切强度>1.2 MPa）和高导电性（1-...
27, May 22'
Webinars
日本の新年度、新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナを実施中ですが、前回に引き続き電気特性に関するアプリケーションをご紹介します。第16回で3種類の形状測定モードをご紹介しましたが、電気特性は検出したい信号によって、ベースとなる形状測定モードが異なります。例えば、コンダクティブAFM（電流測定）ならベースはコンタクトモード、表面電位測定な...
26, May 22'
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神经形态和类脑计算具有并行处理和存储大量数据的能力且功耗低等优点，正在引起学术界和工业界的巨大关注。在本次讲座中将介绍如何利用导电原子力显微镜（CAFM）结合半导体参数分析仪（SPA）在纳米尺寸（~50 nm2）原位观测忆阻型电子突触的动态响应，以及多种可塑性行为的模拟，包括低功耗双脉冲易化、兴奋性突触后电流、长时程增强/抑制等。本工作为...
18, May 22'
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In this session, we observe ferroelectric domains using both electrostatic force microscopy (EFM) and KPFM with improved sensitivity versus measurements performed under a...
28, Apr 22'
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Park低杂讯原子力显微镜与长距离滑动平台（Long range sliding stage）技术相结合，创造出原子等级的长距离表面轮廓分析仪器（Atomic Force Profiler, AFP）. 最佳轮廓的精度和重复性，使其成为半导体产业先进制造中不可或缺的分析仪器。本次讲座介绍了AFM以及非接触式扫描的基本原理，比较不同表面轮廓...
22, Apr 22'
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パーク・システムズ・ジャパンでは、今年も日本の新年度、新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナを開催いたします。 これからAFMを始められるご予定の方、使ったことはあるけれど原理やオペレーションのコツを詳しく知りたいと思っていらっしゃる方、測定はしているけれど出てきた結果に自信が無いと思っていらっしゃる方、そして、ノンコンタクトモードって何...
7, Apr 22'
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C-AFM即导电原子力显微镜在测量纳米尺度样品形貌同时可获得样品的电学特性，例如半导体器件，复合材料，纳米纤维等等。利用原子力的高精度定位，可针对感兴趣区域进行I-V特性研究。该讲座还介绍了C-AFM的不同类型样品的制备和探针种类的选择与推荐。C-AFM是基于原子力contact 模式，在其样品形貌反馈基础上，增加了电流放大器等模块形成样...
30, Mar 22'
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2, Mar 22'
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24, Feb 22'
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16, Feb 22'
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31, Jan 22'
Webinars
The target of this session is to understand the interaction between the tip
and the specimen surface while mapping sample surface.
&nb...
17, Dec 21'
Webinars
For the final session, all previous lecture topics are reinforced through demonstration and practice of current measurement on a floppy disk and magnetic interactions fro...
10, Dec 21'
Webinars
近年、エネルギー変換・貯蔵デバイス（太陽電池、リチウムイオン電池等）が盛んに研究されている。 我々はこれらデバイスの動作原理の理解、および、デバイス設計指針の獲得を目的として、ケルビンプローブ フォース顕微鏡（KPFM）を用いた ナノスケール電位計測に取り組んでいる。特に、光照射下や充放電動作中など のデバイス動作状態...
29, Oct 21'
Webinars
高分子材料の応用は、構造材料やデバイスだけでなく、環境・バイオ・医療・エネルギーなどの広い分野にわたり、開発が盛んに行われています。 ナノオーダーでの材料の機能化、複合化の開発が進み、 原子間力顕微鏡はポリマーの特性を評価するための強力なツールとして広く利用されるようになりました。 今回は装置の機能としてのくくりではなく、高分子...
23, Apr 21'
Webinars
Lecture topics will be reinforced through demonstration and practice of True Non-Contact™, Tapping, and PinPoint™ on a Park Systems NX series AFM. Each imaging mode and s...
17, Apr 21'
Webinars
Lecture topics will be reinforced through demonstration and practice of Contact based imaging on a Park Systems NX series AFM. AFM operator controls are highlighted with ...