Park NX12
생물학 및 전기화학 연구에 최적화된 솔루션
NX12는 재료 과학, 전기화학 및 생화학 연구를 위해 특별히 제작된 원자현미경(AFM)입니다. 액체 및 대기 환경에서 나노스케일 이미징 및 물성 분석을 제공하며, 주사 탐침 기술과 도립형 광학 현미경을 통합하여 동적 프로세스에 대한 포괄적인 분석을 수행합니다.
NX12의 핵심은 Park의 True Non-contact™ 모드와 직교 스캔 시스템을 나노피펫 기반 기술과 결합한 것입니다. 이를 통해 동일한 샘플에서 구조적, 기계적, 전기적, 광학 정보를 연결하는 정밀한 표면 형상 측정과 상관 분석이 가능합니다.
NX12는 SICM을 사용한 살아있는 세포의 비침습적 액체 내 이미징 및 SECM/SECCM을 통한 국소 반응성의 고해상도 매핑을 포함한 다양한 전문 실험을 지원합니다. 디지털 제어 환경 챔버를 통해 가스와 온도 조건을 안정적으로 유지하여 신뢰성과 재현성이 높은 연구를 지원합니다.
NX12의 핵심은 Park의 True Non-contact™ 모드와 직교 스캔 시스템을 나노피펫 기반 기술과 결합한 것입니다. 이를 통해 동일한 샘플에서 구조적, 기계적, 전기적, 광학 정보를 연결하는 정밀한 표면 형상 측정과 상관 분석이 가능합니다.
NX12는 SICM을 사용한 살아있는 세포의 비침습적 액체 내 이미징 및 SECM/SECCM을 통한 국소 반응성의 고해상도 매핑을 포함한 다양한 전문 실험을 지원합니다. 디지털 제어 환경 챔버를 통해 가스와 온도 조건을 안정적으로 유지하여 신뢰성과 재현성이 높은 연구를 지원합니다.
핵심 기능
차세대 AFM과 도립형 광학 현미경의 통합
NX12는 도립형 광학 현미경과 원활하게 통합되어, 연구원이 광학 이미징의 넓은 시야와 AFM의 나노스케일 해상도를 결합할 수 있도록 합니다. 이러한 상호 연관된 설정을 통해 단일 워크플로에서 다양한 길이 스케일에 걸쳐 샘플을 분석할 수 있습니다. 이는 세포 수준의 구조와 나노스케일의 세부 사항을 동시에 연구해야 하는 투명 샘플과 생물학 연구에 특히 유용합니다.
빠른 Z 서보 및 고해상도
Park NX 시리즈의 이미지 해상도가 더욱 향상되었습니다. 적층형 피에조 액추에이터와 스트레인 게이지 센서로 제작된 NX 시리즈의 Z 스캐너는 다양한 표면에서 빠르고 정밀한 측정을 제공합니다. 매우 평평한 샘플에서 거친 샘플까지 스캔 크기에 관계없이 일관된 거칠기 선형성을 유지하여 모든 측정에서 신뢰할 수 있는 결과를 보장합니다.
NX 레이저 빔 경로
NX 헤드는 낮은 코히런스 조명을 제공하는 초발광 다이오드를 통합하여 간섭을 최소화하고 안정적인 신호 감지를 가능하게 합니다. 레이저 빔은 정밀 거울을 통해 캔틸레버와 위치감지광검출기(PSPD)로 유도되어 신호의 정확한 정렬을 보장합니다.
노브는 레이저 빔을 X 및 Y 축을 따라 직접 이동시켜 빔 위치의 직관적인 조정과 프로브 교체 시 손쉬운 재정렬을 가능하게 합니다.
노브는 레이저 빔을 X 및 Y 축을 따라 직접 이동시켜 빔 위치의 직관적인 조정과 프로브 교체 시 손쉬운 재정렬을 가능하게 합니다.
향상된 Z 스캔 직진도
Park NX 시리즈 Z 스캐너는 측정에 사용되는 전체 동작 범위에서 0.1% 이내의 우수한 직선도를 유지하며, 최대 15 μm까지 완전히 확장된 상태에서도 축에서 이탈하는 움직임을 5 nm 이하로 억제합니다. 프리로드 스프링, 정밀 위치 조정 핀, 피에조 액추에이터를 결합한 컴팩트한 조립 구조를 통해 드리프트를 최소화하고 정확한 수직 움직임을 보장하여, 신뢰성 있고 왜곡 없는 나노스케일 측정을 지원합니다.
나노피펫 기반 응용 분야
NX12는 기존 AFM 이미징뿐 아니라, SICM, SICM-SECM 및 SECCM과 같은 고급 응용도 지원합니다. 이러한 기술은 나노스케일의 전기화학 및 이온 이미징을 가능하게 하여 연구원에게 새로운 분야를 탐구할 수 있는 강력한 도구를 제공합니다.
이를 통해 사용자는 표면 형상을 넘어 이온 관련 프로세스, 전기화학적 활성, 표면 반응성을 조사할 수 있으며, 재료 과학뿐만 아니라 생물학 및 전기화학 연구에도 NX12를 활용할 수 있습니다.
이를 통해 사용자는 표면 형상을 넘어 이온 관련 프로세스, 전기화학적 활성, 표면 반응성을 조사할 수 있으며, 재료 과학뿐만 아니라 생물학 및 전기화학 연구에도 NX12를 활용할 수 있습니다.
Park AFM 기술
직교 스캔 시스템
전통적인 튜브 스캐너 방식의 AFM은 Z축 움직임 이탈과 축간 신호 간섭 문제가 발생하기 쉬우며, 특히 대형 스캔 영역에서는 이미지 왜곡이 자주 발생합니다. 모든 Park AFM과 마찬가지로, NX12는 플렉셔 기반 구조를 갖춘 최첨단 직교 스캔 시스템을 사용합니다. 2D 플렉셔 스캐너가 XY 평면에서 샘플을 이동시킬 때, 별도의 1D 플렉셔 스캐너가 Z축 방향에서 팁의 움직임을 독립적으로 제어합니다. 이처럼 분리된 스캐너 구조는 스캔 과정에서 축간 간섭을 최소화하고, 뛰어난 직교성, 선형 스캔, 그리고 우수한 동적 응답성을 통해 Z축 움직임 이탈을 최소화하는 정밀 계측을 지원합니다. XY 피드백을 위해 낮은 노이즈 광학 센서와 Z축 제어를 위해 극도로 낮은 노이즈 스트레인 게이지 센서를 장착한 클로즈드 루프 서보 제어 시스템이 모든 축에서 정밀하고 재현성 높은 스캔을 구현합니다.
XY 스캐너는 적층형 피에조 액추에이터와 플렉셔 힌지 구조를 사용하여 수직 방향 간섭 없이 평탄한 수평 이동을 구현하도록 설계되었습니다. 또한 스캐너 중앙에 있는 위치 센서는 서보 제어에 대한 직접적인 피드백을 제공하여, 스캔 영역 전체에 걸쳐 위치 오차를 최소화합니다. 이러한 설계는 라지 샘플을 스캔하는 경우에도 일관된 정확성과 높은 안정성을 보장합니다.
Park AFM 기술
True Non-Contact™ 모드
NX12는 Park Systems의 독자적인 기술인 True Non-contact™ 모드를 탑재하고 있습니다. 이 모드는 AFM 팁과 샘플 표면 사이에 작용하는 반데르발스 인력을 감지하여 샘플의 형상을 측정합니다.
