Park FX40 IR은 스몰 샘플 분석에 최적화된 나노스케일 IR 분광 및 화학 이미징 AFM 솔루션으로, 나노스케일 수준에서 화학 정보와 표면 특성을 동시에 분석할 수 있습니다. 세계 최초의 완전 자동화 연구용 AFM 장비 Park FX40 플랫폼을 기반으로 하며, 기존 AFM 성능에 더해 나노스케일 분자 진동 매핑 기능을 지원해 표면 형상, 나노기계적·전기적·열적 특성 등을 통합적으로 분석할 수 있습니다.

FX40 IR은 광유도력 현미경(PiFM) 기술을 통해 나노스케일 IR 분광 분석과 화학 이미징을 구현합니다. 모든 Park AFM 제품과 마찬가지로 FX40 IR은 직교 스캔 시스템과 True Non-contact™ 모드를 탑재하고 있어, 손상되기 쉬운 샘플에서도 정밀한 고해상도 측정이 가능합니다.

또한 자동 프로브 교체, IR 빔 자동 정렬, 샘플 뷰 카메라, 다중 위치에서의 순차 측정 기능을 통해 복잡한 측정 작업도 보다 쉽고 효율적으로 수행할 수 있습니다.