Park FX200 IR은 나노스케일에서 화학적 특성과 표면 특성을 함께 분석할 수 있는 최첨단 솔루션입니다. 200 mm 샘플까지 지원하는 검증된 플랫폼을 기반으로 하며, AFM 기능을 유지하면서 나노 스케일 분자 진동 매핑을 제공하여, 표면 형상, 나노기계, 전기, 열 특성을 종합적으로 분석할 수 있습니다.

FX200 IR은 광유도력 현미경(PiFM) 기술을 통해 나노스케일 IR 분광 분석과 화학 이미징을 구현합니다. 모든 Park AFM 제품과 마찬가지로 FX200 IR은 직교 스캔 시스템과 True Non-contact™ 모드를 탑재하고 있어, 손상되기 쉬운 샘플에서도 정확한 고해상도 측정이 가능합니다.

또한 자동 프로브 교체, IR 빔 자동 정렬, 200 mm 전체를 확인할 수 있는 샘플 뷰 카메라, 다중 위치에서의 순차 측정 기능을 통해 복잡한 작업도 손쉽게 수행할 수 있습니다.