Lectures
AFM(Atomic Force Microscopy)은 탐침과 시료 표면 원자 간의 상호작용력을 측정하여 시료 표면의 형상 뿐만 아니라 전기적, 자기적, 역학적, 광학적 및 열적 특성들을 관찰할 수 있게 해줍니다. 이처럼 다양한 범위의 특성을 나노 스케일에서 측정하기 때문에 AFM은 현재 여러 분야에 널리...
In this webinar, I will focus on how we can separate magnetic information by MFM, from other (local) signals, especially also shedding light on the different SPM “channel...
日本の新年度、新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナを実施中ですが、今回は材料の機械特性に関するアプリケーションをご紹介します 機械特性では、形状測定ではあまり日の目を見ないコンタクトモードとスペクトロスコピーの組み合わせが大活躍します。カンチレバーのバネを利用して相手の硬さや弾性、 凝着、様々な機械物性を定量的に評価することが可能になり...
Kelvin probe force microscopy (KPFM), an electrostatic force microscopy (EFM) technique, is widely applied to study electrical surface properties of various conducti...
원자현미경(AFM)은 탐침과 시료 사이의 원자 간 힘을 사용하여 시료 표면의 형상을 측정함과 동시에 시료가 가지고 있는 전기적, 자기적, 기계적 및 열적 특성 등에 대한 연구를 가능하게 합니다. 이와 같은 측정의 범용성으로 AFM은 최근 다양한 연구 분야에서 활발하게 사용되고 있습니다. 그 중 시료가 가...
软电子学正在向医疗保健监测和医疗植入方向发展。然而,材料的高导电性和低杨氏模量之间难以达到平衡、生物组织与柔性智能器件之间较差的粘合强度和显著的机械失配等因素会导致器件在界面上的功能失效。在此,我们报告了一种具有低模量(56.1-401.9 kPa)、高拉伸性(700%)、高界面附着力(搭接剪切强度>1.2 MPa)和高导电性(1-...
日本の新年度、新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナを実施中ですが、前回に引き続き電気特性に関するアプリケーションをご紹介します。第16回で3種類の形状測定モードをご紹介しましたが、電気特性は検出したい信号によって、ベースとなる形状測定モードが異なります。例えば、コンダクティブAFM(電流測定)ならベースはコンタクトモード、表面電位測定な...
In this session, we observe ferroelectric domains using both electrostatic force microscopy (EFM) and KPFM with improved sensitivity versus measurements performed under a...
Park低杂讯原子力显微镜与长距离滑动平台(Long range sliding stage)技术相结合,创造出原子等级的长距离表面轮廓分析仪器(Atomic Force Profiler, AFP). 最佳轮廓的精度和重复性,使其成为半导体产业先进制造中不可或缺的分析仪器。本次讲座介绍了AFM以及非接触式扫描的基本原理,比较不同表面轮廓...
C-AFM即导电原子力显微镜在测量纳米尺度样品形貌同时可获得样品的电学特性,例如半导体器件,复合材料,纳米纤维等等。利用原子力的高精度定位,可针对感兴趣区域进行I-V特性研究。该讲座还介绍了C-AFM的不同类型样品的制备和探针种类的选择与推荐。C-AFM是基于原子力contact 模式,在其样品形貌反馈基础上,增加了电流放大器等模块形成样...