Lectures
14, Dec 22'
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From functional polymer composites to wearable electronics or 2D materials or biological structures, local variations in mechanical properties dictate the macroscopic pro...
29, Nov 22'
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In this webinar the principle of electrostatic force microscopy (EFM) will be discussed to map electrical properties of the sample by sensing the electrostatic force betw...
21, Oct 22'
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蓄電池の研究開発においてAFMは欠かせないツールとなっています。特に、走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）は、電池特性に直接影響する局所電気特性を評価できる手法として注目されています。SSRMはメーカー等による応用展開が進んでいますが、論文等による報告が少ないため測定の実態を知る機会がそれほど多くないというのが現状かと思われます。
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22, Sep 22'
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파크시스템스는 이번 웨비나를 통해 PFM의 기본 원리와 응용을 주제로 성균관대 김윤석 교수의 초청 강연을 준비하였습니다. 웨비나에서는 PFM의 기본 원리와 응용은 물론, PFM 응답 특성의 비압전적 요인을 밝히기 위한 최근의 연구 성과와 AFM 기술을 이용하여 강유전성 물질의 특성을 어떻게 분석하는지도 ...
7, Sep 22'
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原子力显微镜AFM是在纳米尺度上表征样品形貌的最主要的方法之一，基于样品形貌同时还可选择不同模块研究其电学，磁学，热学，电化学，力学等特性。然而样品制备的合适与否决定了样品形貌及其他特性的准确性。本讲座主要介绍不同类型的样品制备过程及注意点，包括粉末，纤维，电学模块样品等等。样品的制备是所有实验的基础，尤其是AFM样品的形貌测试，不同类型...
30, Aug 22'
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この度新たに、産業用AFMにつきましてもウェビナーを開催いたします。弊社では半導体関係でのAFM計測のご要望に応えるため、300mmウエハーの自動搬送に対応したNX-Waferをはじめとする装置ラインナップを取り揃え、表面粗さや形状計測といった用途のみならず、プロファイラー機能や平坦基板の欠陥自動計測といったオプションも取り揃えております...
29, Aug 22'
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Atomic force microscope (AFM) is an indispensable tool to map the nanoscale properties of a material and one expects its operations to be user friendly. However, one of t...
25, Aug 22'
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开尔文探针力显微镜 (KPFM) 是一种静电力显微镜 (EFM) 技术，被广泛应用于研究各种导电或半导体样品表面电特性。KPFM 提供局部表面电位分布的定量结果，或者，校准后，测量样品的功函数。KPFM 广泛用于研究和工业中，用于对各种应用（如聚合物化合物或太阳能电池等电子设备）的功函数变化进行成像。 在本次网络研讨会中，我们将展示开尔文...
28, Jul 22'
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随着半导体芯片技术进展，元器件特征尺寸横向微缩的同时，对于元器件纵向维度上的微缩、堆叠与平坦化控制也随之日趋重要，相关线上制程监控也越来越重要。传统量测仪器面对于纵向维度上制程监控需求正面临着挑战，然而原子力显微镜因其优异的纵向解析度与灵敏度，近年来也获得越来越多的关注。本文介绍原子力显微镜于现今半导体芯片制程技术的量测应用，以及其未来展...
6, Jul 22'
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Magnetic Force Microscopy (MFM) is a well-known non-contact scanning probe (SPM) technique established for more than 35 years by now, that is capable of mapping near-surf...