AFM Tip Characterizer (AFMTC)   Park Systems, a leading provider of Atomic Force Microscopy (AFM) and nano-metrology solutions, is proud to announce the launch of ...

  Park Systems, a leading manufacturer of Atomic-Force Microscopy (AFM) systems, is celebrating its new status as the number one global leader in the industry. Acco...

XE-120 and XE-NSOM   2008년에 출시되었던 XE-120과 XE-NSOM이 부품 수급의 어려움으로 인하여 부득이하게 2024년 1월 부로 서비스를 종료할 예정임을 안내 드립니다. 자세한 사항은 안내문을 통해 확인하실 수 있습니다. 관련하여 궁금한 사항이 있으시면, RTS팀...

Park Systems, a leading manufacturer of atomic force microscopy (AFM) and nano metrology systems, has introduced its newest product, the Park NX-IR R300, a nanoscale infr...

파크시스템스는 반도체 최첨단 공정인 EUV 공정의 포토 마스크에 발생하는 나노미터 크기의 결함 및 파티클을 가장 안전하고 효과적으로 제거할 수 있는 신제품 Park NX-Mask를 11월 1일 정식 출시했다고 밝혔다. Fully Compatible with EUV Dual Pods 포토 마스크는 ...

Dr. Sang-il Park, CEO of Park Systems, addresses the welcome greetings Park Systems, a leading manufacturer of atomic force microscopy (AFM) systems, expands its busines...

XE7 and XE15 2022년 9월 30일부로, 오랫동안 많은 관심을 받았던 파크시스템스 XE7 과 XE15 제품의 생산 및 판매가 중단됩니다. 이들 제품은 NX7과 NX20 Lite로 대체되어 보다 우수한 제품으로 출시될 예정입니다. XE7과 XE15 제품의 단점을 보완하여 설계된 NX 시...

Park Systems, a world-leading supplier of Atomic Force Microscopes announced the opening of their new Eastern Regional Lab at Northeastern University's 14-acre Innovation...