로그인
|
고객문의
|
Global
English
한국어
日本語
简体中文
제품소개
연구ᆞ표면분석용 원자현미경
Small Sample AFM
Large Sample AFM
Vacuum Environment AFM
AFM Probes and Options
AFM Modes and Techniques
인라인 계측용 원자현미경
AFM for Wafer Fabs
AFM for Flat Panel Display
Photomask Repair
Optical Profilometry
Nano Infrared Spectroscopy
Ellipsometry for Thin Film Characterization
Imaging Spectroscopic Ellipsometry
Referenced Spectroscopic Ellipsometry
Brewster Angle Microscopy
Ellipsometry Accessories
Surface Inspection Metrology
Active Vibration Isolation
Benchtop Isolation Tables
Modular Isolation Elements
Laboratory Tables
Acoustic Enclosures
Heavy Load Platforms and Isolation Elements
Software
Park SmartAnalysis™
Park SmartScan™
Park SmartLitho™
응용기술
Semiconductor
Polymer
Metal and Ceramic
Thin Film
Life Science
AFM Exclusive
2D-Materials
Surface Engineering
Anisotropic Films
Photonics
Display
고객지원
Park 유저 커뮤니티
고객문의
AFM 질의응답
Probe 스토어
매뉴얼 & 소프트웨어
Park Service Program
이벤트
유저미팅 & 전시회
워크샵
NanoScientific Conference
Webinars
회사소개
회사뉴스
회사소개
사업장 소개
채용정보
고객문의
투자정보
러닝센터
NANOacademy
Lectures
How AFM Works
전문가 코너
Analyze Cells
Programs
Park AFM Scholarship
Resources
AFM 이미지 갤러리
비디오
NANOscientific Magazine
Park AFM User Handbook
제품소개
연구ᆞ표면분석용 원자현미경
Small Sample AFM
Large Sample AFM
Vacuum Environment AFM
AFM Probes and Options
AFM Modes and Techniques
인라인 계측용 원자현미경
AFM for Wafer Fabs
AFM for Flat Panel Display
Photomask Repair
Optical Profilometry
Nano Infrared Spectroscopy
Ellipsometry for Thin Film Characterization
Imaging Spectroscopic Ellipsometry
Referenced Spectroscopic Ellipsometry
Brewster Angle Microscopy
Ellipsometry Accessories
Surface Inspection Metrology
Active Vibration Isolation
Benchtop Isolation Tables
Modular Isolation Elements
Laboratory Tables
Acoustic Enclosures
Heavy Load Platforms and Isolation Elements
Software
Park SmartAnalysis™
Park SmartScan™
Park SmartLitho™
응용기술
Semiconductor
Polymer
Metal and Ceramic
Thin Film
Life Science
AFM Exclusive
2D-Materials
Surface Engineering
Anisotropic Films
Photonics
Display
고객지원
Park 유저 커뮤니티
고객문의
AFM 질의응답
Probe 스토어
매뉴얼 & 소프트웨어
Park Service Program
이벤트
유저미팅 & 전시회
워크샵
NanoScientific Conference
Webinars
회사소개
회사뉴스
회사소개
사업장 소개
채용정보
고객문의
투자정보
러닝센터
NANOacademy
Lectures
How AFM Works
전문가 코너
Analyze Cells
Programs
Park AFM Scholarship
Resources
AFM 이미지 갤러리
비디오
NANOscientific Magazine
Park AFM User Handbook
You are here:
홈
회사소개
회사뉴스
News
12, Apr 24'
Park in the News
[구멍 난 기술특례] 성장한 기술특례 기업, ‘이것’ 달랐다
2, Apr 24'
Park in the News
파크시스템스, 수주 증가세 주목…목표가 22만 신규제시
1, Apr 24'
Park in the News
'최대 매출' 파크시스템스, 신규장비 수주 이어간다
29, Mar 24'
Park in the News
원자현미경 1위 파크시스템스, HBM 투자확대 수혜
20, Mar 24'
Press-Release
Park Systems Continues Its Reign as Market Leader in Atomic Force Microscopy
Park Systems, a leading manufacturer of nano-metrology systems, proudly maintains its position as the industry leader in the atomic force microscopy (AFM) market for the ...
15, Mar 24'
Park in the News
파크시스템스, 2년 연속 글로벌 원자현미경 선두
6, Mar 24'
Park in the News
'성실납세자' 파크시스템스 "사회적 책임 다할 것"
23, Feb 24'
Park in the News
파크시스템스 "원자현미경 시대 곧 도래"
23, Feb 24'
Park in the News
최대 실적 낸 파크시스템스, 연평균 30% 성장 '자신'
5, Feb 24'
Park in the News
"반도체 불황 뚫어" 파크시스템스 실적 '승승장구'
페이지 1 / 전체 29
1
2
3
4
...
6
7
8
9
10
회사뉴스
Press Release
Park in the News
회사소개
사업장 소개
채용정보
고객문의
투자정보