A New General Manager of Park Systems GmbH Accurion Division, Stefan Schneider   Park Systems, a leading provider of Atomic Force Microscopy (AFM) and na...

Park Systems, a leading manufacturer of atomic force microscopes (AFM) and related nano-metrology systems, announced the grand opening of its new application center in Sh...

Park Systems, the leader in nanoscale microscopy systems, is pleased to announce the return of the NANOscientific Symposiums in 2023. Following a successful run of virtua...

AFM Tip Characterizer (AFMTC)   Park Systems, a leading provider of Atomic Force Microscopy (AFM) and nano-metrology solutions, is proud to announce the launch of ...

  Park Systems, a leading manufacturer of Atomic-Force Microscopy (AFM) systems, is celebrating its new status as the number one global leader in the industry. Acco...

XE-120 and XE-NSOM   2008년에 출시되었던 XE-120과 XE-NSOM이 부품 수급의 어려움으로 인하여 부득이하게 2024년 1월 부로 서비스를 종료할 예정임을 안내 드립니다. 자세한 사항은 안내문을 통해 확인하실 수 있습니다. 관련하여 궁금한 사항이 있으시면, RTS팀...

Park Systems, a leading manufacturer of atomic force microscopy (AFM) and nano metrology systems, has introduced its newest product, the Park NX-IR R300, a nanoscale infr...

파크시스템스는 반도체 최첨단 공정인 EUV 공정의 포토 마스크에 발생하는 나노미터 크기의 결함 및 파티클을 가장 안전하고 효과적으로 제거할 수 있는 신제품 Park NX-Mask를 11월 1일 정식 출시했다고 밝혔다. Fully Compatible with EUV Dual Pods 포토 마스크는 ...

Dr. Sang-il Park, CEO of Park Systems, addresses the welcome greetings Park Systems, a leading manufacturer of atomic force microscopy (AFM) systems, expands its busines...

XE7 and XE15 2022년 9월 30일부로, 오랫동안 많은 관심을 받았던 파크시스템스 XE7 과 XE15 제품의 생산 및 판매가 중단됩니다. 이들 제품은 NX7과 NX20 Lite로 대체되어 보다 우수한 제품으로 출시될 예정입니다. XE7과 XE15 제품의 단점을 보완하여 설계된 NX 시...