Park NX12
生物学的および電気化学的研究の最適解
NX12は、材料科学、電気化学、生化学研究向けの特殊原子間力顕微鏡（AFM）です。液体環境および大気中でのナノスケールでのイメージングと特性評価を実現し、走査型プローブ技術と倒立型光学顕微鏡を一体化して動的プロセスの包括的な分析を行います。
NX12の中核をなすのは、ParkのTrue Non-Contact™（完全非接触）モードとナノピペットベースの技術を備えた直交スキャンシステムを組み合わせており、同じサンプル上で構造的、機械的、電気的、光学的情報を結びつける精密なトポグラフィーと相関測定を実現します。
NX12は、SICMを用いた生きた細胞の非侵襲的な液中イメージングや、SECM/SECCMによる局所反応性の高解像度マッピングなど、さまざまな専門的な実験に対応しています。デジタル制御式環境チャンバーは、高い信頼性と再現可能な研究向けに安定したガスと温度条件を維持します。
NX12の中核をなすのは、ParkのTrue Non-Contact™（完全非接触）モードとナノピペットベースの技術を備えた直交スキャンシステムを組み合わせており、同じサンプル上で構造的、機械的、電気的、光学的情報を結びつける精密なトポグラフィーと相関測定を実現します。
NX12は、SICMを用いた生きた細胞の非侵襲的な液中イメージングや、SECM/SECCMによる局所反応性の高解像度マッピングなど、さまざまな専門的な実験に対応しています。デジタル制御式環境チャンバーは、高い信頼性と再現可能な研究向けに安定したガスと温度条件を維持します。
特長
倒立型光学顕微鏡との一体化
NX12は、倒立型光学顕微鏡とシームレスに一体化しており、研究者が光学イメージングの広い視野とAFMのナノスケール解像度を組み合わせることを可能にします。この相関設定により、単一のワークフローを用いて複数の長さスケールにわたって試料を分析できるようになります。透明なサンプルや生物学的研究において、細胞レベルの構造とナノスケール詳細の両方を同時に研究できる点で特に価値があります。
高速Zサーボと高分解能
Park NXシリーズの画像解像度がさらに向上しました。積層ピエゾアクチュエータとストレインゲージセンサーを備えたNX Zスキャナーは、さまざまな表面で高速かつ高精度な測定を実現します。極めて平坦な試料から粗いものまで、スキャンサイズに関係なく、一貫した粗さの直線性を維持し、あらゆる測定で信頼性の高い結果を保証します。
NXレーザービームパス
NXヘッドは、低コヒーレンスの照明を提供するスーパールミネッセントダイオードを内蔵し、干渉を最小限に抑え安定した信号検出を実現します。レーザービームは精密ミラーを通してカンチレバーと位置感知型光検出器（PSPD）に誘導され、正確な信号アライメントを保証します。
ノブ操作によりレーザービームをX軸およびY軸方向へ直接移動でき、ビーム位置を直感的に調整できるほか、プローブ交換時の再アライメントもスムーズに行えます。
ノブ操作によりレーザービームをX軸およびY軸方向へ直接移動でき、ビーム位置を直感的に調整できるほか、プローブ交換時の再アライメントもスムーズに行えます。
Zスキャンの直進性向上
Park NXシリーズZスキャナーは、使用可能範囲全体で0.1%以内の真直度を維持し、15μmの最大伸長時でも軸外方向の動きは5nm未満です。 予圧スプリング、キネマティックピン、ピエゾアクチュエーターを組み合わせたコンパクトな構造は、ドリフトを最小限に抑え、信頼性が高く歪みが生じないナノスケール測定のための正確な垂直運動を保証します。
ナノピペットを使用する用途
NX12の利点は、従来のAFMイメージングに留まりません。
SICM、SICM-SECM、SECCMなどの高度な用途にも対応しています。これらの技術により、ナノスケールの電気化学イメージングおよびイオンイメージングが可能になり、研究者に新たな分野を探求する強力なツールを提供します。
これらの用途により、ユーザーは表面トポグラフィーだけでなく、イオン関連プロセス、電気化学的活動、表面反応性を調査できます。そのため、NX12は材料科学のみならず、生物学的および電気化学的研究にも適した多目的プラットフォームとなっています。
これらの用途により、ユーザーは表面トポグラフィーだけでなく、イオン関連プロセス、電気化学的活動、表面反応性を調査できます。そのため、NX12は材料科学のみならず、生物学的および電気化学的研究にも適した多目的プラットフォームとなっています。
Park AFMテクノロジー
直交スキャン
チューブスキャナーを備えた従来のAFMは、面外方向の運動と軸のクロストークの影響を受け、特に広いスキャンエリアでは画像の歪みが生じます。NX12は、すべてのPark AFMと同様に、フレクシャガイド式アーキテクチャを採用した高度な直交スキャンシステムを搭載しています。2Dフレクシャスキャナーが試料をXY平面内で移動させ、独立した1DフレクシャスキャナーがプローブのZ軸の運動を制御します。XYフィードバック用の低ノイズ光学センサーとZ制御用の超低ノイズひずみゲージセンサーを備えた分離型スキャナーシステムにより、面外方向の動きを最小限に抑え、高い直交性と直線性を持つスキャンと高速な動的性能を実現します。
XYスキャナは、積層ピエゾアクチュエーターとフレクシャーヒンジ構造を採用することで、垂直干渉のないフラットで純粋な水平運動を実現するように設計されています。位置センサーはサーボ制御に直接フィードバックを提供し、スキャン領域全体での位置決め誤差を最小限に抑えます。この設計により、大きな試料をスキャンする場合でも、一貫した精度と安定性が確保されます。
Park AFMテクノロジー
True Non-Contact™（完全非接触）モード
NX12は、Park Systemsが独占的に提供する独自のテクノロジーであるTrue Non-contact™（完全非接触）モードを備えています。True Non-contact（完全非接触）モードは、AFM探針と試料表面の間の引力であるファンデルワールス力を検出することで表面形状を取得します。
