Lectures
25, Aug 22'
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开尔文探针力显微镜 (KPFM) 是一种静电力显微镜 (EFM) 技术，被广泛应用于研究各种导电或半导体样品表面电特性。KPFM 提供局部表面电位分布的定量结果，或者，校准后，测量样品的功函数。KPFM 广泛用于研究和工业中，用于对各种应用（如聚合物化合物或太阳能电池等电子设备）的功函数变化进行成像。 在本次网络研讨会中，我们将展示开尔文...
30, Aug 22'
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この度新たに、産業用AFMにつきましてもウェビナーを開催いたします。弊社では半導体関係でのAFM計測のご要望に応えるため、300mmウエハーの自動搬送に対応したNX-Waferをはじめとする装置ラインナップを取り揃え、表面粗さや形状計測といった用途のみならず、プロファイラー機能や平坦基板の欠陥自動計測といったオプションも取り揃えております...
14, Sep 22'
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Join for the 4th webinar in the series: Trends vs. Hypes in AFM titled "Making dielectrics the only barrier in your research with high voltage electrical AFM. I...
28, Jul 22'
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随着半导体芯片技术进展，元器件特征尺寸横向微缩的同时，对于元器件纵向维度上的微缩、堆叠与平坦化控制也随之日趋重要，相关线上制程监控也越来越重要。传统量测仪器面对于纵向维度上制程监控需求正面临着挑战，然而原子力显微镜因其优异的纵向解析度与灵敏度，近年来也获得越来越多的关注。本文介绍原子力显微镜于现今半导体芯片制程技术的量测应用，以及其未来展...
28, Jul 22'
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原子力显微镜的探针关乎我们的研究成果。探针的性状好坏决定了原子力显微镜成像结果的优劣。本次演讲会着重在经验的分享，希望能帮助大家在未来参数的设定上，以及探针的选用上，都能做出更精准的判断。本次讲座会依次从原子力显微镜的基本设定，探针，探针形状问题，力曲线，典型图像瑕疵分析，AFM图像分析等方面为大家进行分享。
// Marketo la...
6, Jul 22'
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Magnetic Force Microscopy (MFM) is a well-known non-contact scanning probe (SPM) technique established for more than 35 years by now, that is capable of mapping near-surf...
30, Jun 22'
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AFM(Atomic Force Microscopy)은 탐침과 시료 표면 원자 간의 상호작용력을 측정하여 시료 표면의 형상 뿐만 아니라 전기적, 자기적, 역학적, 광학적 및 열적 특성들을 관찰할 수 있게 해줍니다. 이처럼 다양한 범위의 특성을 나노 스케일에서 측정하기 때문에 AFM은 현재 여러 분야에 널리...
14, Jun 22'
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Kelvin probe force microscopy (KPFM), an electrostatic force microscopy (EFM) technique, is widely applied to study electrical surface properties of various conducti...
9, Jun 22'
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원자현미경(AFM)은 탐침과 시료 사이의 원자 간 힘을 사용하여 시료 표면의 형상을 측정함과 동시에 시료가 가지고 있는 전기적, 자기적, 기계적 및 열적 특성 등에 대한 연구를 가능하게 합니다. 이와 같은 측정의 범용성으로 AFM은 최근 다양한 연구 분야에서 활발하게 사용되고 있습니다. 그 중 시료가 가...
18, May 22'
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In this session, we observe ferroelectric domains using both electrostatic force microscopy (EFM) and KPFM with improved sensitivity versus measurements performed under a...