用于产线计量的原子力显微镜

HDD Media Inspection

Park Systems 的精密 AFM 专为满足磁头与介质计量的严苛要求而设计,助力硬盘制造。NX-PTR 可对硬盘磁头进行纳米级表面表征,实现对读写性能至关重要的粗糙度与形貌精确测量。NX-HDM 可对硬盘基板及介质实现自动化缺陷检测,确保大批量生产线上质量控制的一致性。二者结合,为工艺工程师提供可靠、可重复的数据,助力提升良率、收紧制造公差。哪里需要硬盘精度,哪里就有 Park Systems。