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190-1000 Front Beamcutter Waveguides
N-K-Multi-Graph

Photonics

Imaging Ellipsometry

• Spectroscopic ellipsometry on small optical fibers and waveguides with lateral resolution down to 1µm

• Precise refractive index measurement on waveguides, vertical facets and fiber ends with relative refractive index difference < 0.001

• Precise film thickness measurement with 0.1nm thickness resolution

• Wavelength range 190nm - 1700nm (IR upgrade to 2700nm possible)

• Multiple results from a single measurement: Film thickness, refractive index, composition, contaminations

• ECM mode (Ellipsometric Contrast-enhanced Microscopy) for fast quality control

Typical applications include:

• Photonics and waveguides

• Integrated photonics

• Vertical facets

• Optical fibers

Brochure
×
190-1000 Front Beamcutter Waveguides
N-K-Multi-Graph

Refractive Index Measurement of Waveguides by Imaging Ellipsometry (pdf)

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Refractive Index Measurement of Waveguides and Fibers by Imaging Ellipsometry (pdf)

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Spectroscopic Imaging Ellipsometry with New High Speed Measurement Mode (pdf)

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Coupled Topological Interface States (2021)

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Imaging Ellipsometry Determination of the Refractive Index Contrast and Dispersion of Channel Waveguides Inscribed by fs-Laser Induced Ion-Migration (2018)

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