Park NX1 - Repeatable Atomic-Scale Imaging in Ambient Conditions
Park FX40 IR - Nanoscale IR Spectroscopy on Fully Automated AFM
精密なナノメトロロジーにより材料と化学研究を 向上させ、深いナノスケールの洞察と分析を 可能にするPark AFM
自動化AFMソリューションによる、半導体アプリケーションにおける正確で繰り返し 測定可能なデバイスの製造と性能の向上
エリプソメトリーと顕微鏡を融合させ、様々な分野で高度なマイクロアナリシスを 実現するPark イメージング分光エリプソメーター
ノイズの多い環境でも正確な測定を可能にする 高度なPark 除振台。
パーク・システムズは、アメリカ、ヨーロッパ、アジア、 オセアニアにまたがりオフィスを展開し、 各地域において多くの代理店やパートナーと提携しています。