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前回のAFM基礎コースPart2に引き続き、イメージングに必須のプローブについてお話します。 パーク・システムズの使い易いオペレーションソフトウエアと適切なプローブの選択で、正確で情報量の多いデータを取得していただければと思います。

 
 
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パーク・システムズ#9
研究⽤AFM: AFMプローブの選択方法

2021年5月28日 金曜日
4:00 pm – 4:45 pm (JST)
東京 日本
※This Webinar will be presented in Japanese

前回のAFM基礎コースPart2に引き続き、イメージングに必須のプローブについてお話します。
原子間力顕微鏡(AFM)のプローブを適切に選択することは、質の高いイメージを取得するために重要な過程の一つです。 一般に、AFMプローブは、シリコンチップ、チップから延びるカンチレバー(SiまたはSi3N4)、およびカンチレバーの先端に 取り付けられた(または一体型)探針(SiまたはSi3N4)で構成されます。AFMプローブには、様々な材料、形状、剛性(バネ定数)、 共振周波数、Q値があります。プローブの選択はその材料と用途によって異なります。
以上のようにプローブは、材質、バネ定数、共振周波数、針の形状 の組み合わせで、様々なアプリケーションに合ったものを選択することが重要です。 どういった観点でプローブを選択するのか、実際の画像と合わせながらご紹介いたします。
パーク・システムズの使い易いオペレーションソフトウエアと適切なプローブの選択で、正確で情報量の多いデータを取得していただければと思います。

発表者:後藤 千絵、パーク・システムズ・ジャパン株式会社 技術部 分析チーム

1991年から現在まで29年間をAFMと共にしてきた後藤は、2012年にNEDOの研究員として、千葉大学で燃料電池の研究に携わってきた。日常のデモンストレーション以外にも、これまでに多くのOn Siteセミナー、ユーザートレーニングの実施や日本の顧客向けにオリジナルガイドブックの作成に手をかけている。

 

 

 

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope