​ 原子間力顕微鏡（AFM）は走査プローブ顕微鏡（SPM）ファミリーのひとつであり、nmオーダーの曲率半径をもつ鋭い探針を試料表面の凹凸に沿って走査させるという、レンズを使う顕微鏡とは全く異なる原理をもつ新しいタイプの顕微鏡である。 我々は、AFMをベースにし、ナノメートルスケールで「単一高分子鎖の物性」と「高分子材料の物性」の評価手法を開発している。これらの手法により、高分子一本鎖の粘弾性とコンフォメーションや材料表面のナノヤング率、凝着エネルギーなどの力学物性を実測することができる。 さらに、力は必ずしも原子間力に限ったものではなく、AFMの亜種であるコンダクティブ AFM（C-AFM）は導電性を、ケルビンプローブフォース顕微鏡（KPFM）は表面電位を検出することができる。表面の導電性分布や表面電位分布を画像化でき、さらにその情報も材料力学物性の機構界面に有用な知見を与える。 ナノ力学物性と巨視的力学物性の相関を理解することは、機能のメカニズムと材料開発への応用に重要であり、相関実験手法と幾つかの事例を含めて紹介する。