Microscopía de fuerza de sonda Kelvin de banda lateral para caracterización avanzada de materiales.

La microscopía de fuerza de sonda Kelvin de banda lateral (KPFM) utiliza la intermodulación de una fuerza impulsora electrostática y una fuerza impulsora mecánica para convertir la frecuencia electrostática a la primera resonancia de flexión, donde el factor de alta calidad de la resonancia produce una medición más sensible. La señal KPFM de banda lateral se calcula utilizando una interacción local entre el ápice de la punta y la muestra en lugar de una interacción total entre el voladizo y la muestra, mejorando la resolución espacial sobre otras variaciones de la técnica. Únase a nosotros como ingeniero de servicios técnicos en Park Systems que cubre los conceptos básicos y más detalles de KPFM de banda lateral, incluidas las compensaciones y sugerencias de imágenes para Park AFM con varias imágenes de materiales avanzados.

Figura: Diferencia de potencial de superficie usando KPFM de banda lateral en alcano semifluorado usando (a) un voladizo más corto y duro y (b) un voladizo más largo y suave. Perfiles de línea (c) que muestran una resolución más alta con un voladizo más largo y suave (b) (Referencia: Imágenes de potencial de superficie a través de microscopía de fuerza de sonda Kelvin de banda lateral (Parksystems.com)

ACERCA DE NUESTRO PANELISTA : 
Armando Melgarejo es ingeniero de soporte en Park Systems

Armando Melgarejo es ingeniero de soporte en Park Systems, donde se dedica a la instalación y atención de AFM al nivel de investigación y posgrado. Tiene un título en ingeniería en Biotecnología de la Universidad Autónoma de Querétaro, México. Durante sus estudios hizo un semestre de investigación en la Universidad Tecnica de Czechia en Praga, Republica Checa; donde se especializo en nanotecnología y biología molecular. Entre sus áreas de experiencia se encuentran diversas técnicas de caracterización (RAMAN, AFM and IR), inmovilización de enzimas, genética y biología celular.