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本系列报告,将基于我们在原子力显微术的技术研究工作,利用多种先进原子力显微术针对二维材料的本征界面、异质界面以及材料/基底界面开展的研究工作。在每次报告中,我们首先将在较为详细地介绍主要使用的先进AFM模式的基本原理、技术实现及其相关应用。

 
 
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二维材料界面结构与性质的原子力探针显微学研究(2)- 力学结构与性质

2020年11月5日*星期四
北京时间东八区上午11:00-12:00
*Note: This webinar will be presented in Mandarin /中文

接触模式下,AFM针尖与二维材料的相互作用

二维原子晶体材料的摩擦力与剪切力成像

近年来,由于其潜在的巨大应用价值,关于二维层状材料的基础和应用研究方兴未艾,核心工作是理解和控制其多种多样的有趣性质。之前的研究工作主要集中在二维材料的面内结构,多种多样的层间相互作用在调控其力学、电学、热学以及光学等性质方面也有重要作用。虽然已有许多实验和理论研究工作来表征和理解这些界面结构,但对于界面行为是如何影响其物理与化学行为的仍然不是特别清楚。一个重要原因是,内部界面结构的直接微观成像和性质研究在实验技术上是相对比较困难的。
在之前,报告人已经针对的AFM的基础知识、基本模式以及功能化AFM探测模式进行了介绍。本系列报告,将基于我们在原子力显微术的技术研究工作,利用多种先进原子力显微术针对二维材料的本征界面、异质界面以及材料/基底界面开展的研究工作。在每次报告中,我们首先将在较为详细地介绍主要使用的先进AFM模式的基本原理、技术实现及其相关应用。在此基础上,介绍我们利用该AFM模式所开展的关于二维材料界面结构与性质方面的研究工作。希望通过本系列报告有助于相关AFM使用者能够利用比较复杂的AFM功能模式开展研究工作。
本次报告是《二维材料界面结构与性质的原子力探针显微学研究》系列的第二次报告。在前次报告中,我们主要围绕AFM的电学测量模式,针对二维材料的界面电学性质开展研究。本次报告中,我们将主要围绕接触AFM模式下的力学成像功能,针对二维原子晶体的晶格成像和应变结构成像等来开展。

主讲人: 
程志海教授

中国人民大学物理学系教授,博士生导师,基金委优青,中国仪器仪表学会显微仪器分会理事,中国硅酸盐学会微纳米分会理事。2002年毕业于大连理工大学物理与光电工程学院应用物理系。2002-2007年,在中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室硕博连读,获凝聚态物理博士学位。2004年7月至2005年1月,在德国柏林自由大学物理系及实验物理研究所做访问学者,2007年8月-2011年7月,在美国加州大学Riverside分校化学系及纳米科学与工程中心从事博士后研究。2011年8月-2017年月,国家纳米科学中心(中科院纳米标准与检测重点实验室),任副研究员/研究员。曾获中国科学院“引进杰出技术人才计划”(技术百人计划)和首届“卓越青年科学家”,卢嘉锡青年人才奖获得者,青年创新促进会会员并获首届“学科交叉与创新奖”等。目前,主要工作集中在先进原子力探针显微分析技术及其在低维与表面物理、纳米科技等领域的应用基础研究。