XE AFM 관련 논문(Atomic force microscope with improved scan accuracy, scan speed, and optical vision )이 RSI에 출판되었습니다. 또한 Virtual Journal of Nanoscale Science & Technology에도 출판되었습니다. "Virtual Journal"이란Journal of Applied Physics, Applied Physics Letter, Review of Scientific Instrument 등 American Institute of Physics (AIP)와 American Physical Society (APS)에서 출간하는 journal에 실린 논문들 중에서 일부를 선택하여 Nanotechnology, Biological Physics 등의 Hot issue가 되고 있는 주제별로 다시 분류한 후 엮어, "Virtual Journal of Nanoscale Science & Technology", "Virtual Journal of Biological Physics" 과 같은 이름으로 On-line 상으로 출간되는 Journal입니다