2022年7月28日、29日にオンラインで開催される「実用顕微評価技術セミナー 2022」の企業ショートプレゼンテーション（10分）にて発表をいたします。
【パーク・システムズ・ジャパン企業ショートプレゼンテーション概要】
原子間力顕微鏡（AFM）によるAM KPFMとSideband KPFMの比較とその応用
日時：2022年 7月 28日（木曜日） 14:40-14:50
【セミナー開催概要】
日時：2022年 7月 28日（木曜日）13：00-17：00
2022年 7月 29日（金曜日）10：00-15：00
開催形式：オンライン（Webex）
参加料：無料
参加登録： 参加登録ページへ
研究会趣旨： 本セミナーは、ナノ材料・デバイスの評価技術として重要な新しい顕微評価技術の展開と促進を図り、これを通じて産業界に貢献することを目的として毎年開催してきました。今回は「電子顕微鏡の最前線と表面分析技術の革新」をテーマとし、特別講演者として電子顕微鏡技術のフロンティアでご活躍の柴田直哉先生（東京大学）と、我が国の表面分析技術を牽引する藤田大介先生（物質材料研究機構）をお招きします。また今回のテーマ「電子顕微鏡の最前線と表面分析技術の革新」に合わせて、フロンティアでご活躍の先生や実際に電子顕微鏡を開発されている技術者からの招待講演を計画しています。COVID-19の状況を考慮し、オンラインでの開催となりますが、遠方からのご参加も可能です。